相位測量輪廓術(shù) ( PhaseMeasuring Profilometry,簡稱PMP)是采用結(jié)構(gòu)光照明的一種非接觸的三維面形測量方法. 這種方法采用正弦光柵投影和數(shù)字相移技術(shù),以較低廉的光學(xué)、電子和數(shù)字硬件設(shè)備為基礎(chǔ),以較高的速度和精度獲取和處理大量的三維數(shù)據(jù). 作為一種重要的三維傳感手段,這種方法已在工業(yè)檢測、實(shí)物仿形、醫(yī)學(xué)診斷等領(lǐng)域獲得廣泛應(yīng)用.
    1）光學(xué)三維測量技術(shù)按照成像照明方式的不同通常可分為被動三維測量和主動三維測量兩大類。 
   相位測量輪廓術(shù)目前已成為使用最為廣泛的主動三維測量技術(shù)。
    2）相位計算
    2.1 相位主值計算 
    標(biāo)準(zhǔn)N幀相移算法對系統(tǒng)的隨機(jī)噪聲具有最佳的抑制作用，且對N-1次以下諧波誤差不敏感，目前已成為結(jié)構(gòu)光測量技術(shù)中使用最為廣泛的一種相移算法。
    2.2 相位展開
    目前已有非常多的相位展開算法，這些算法大體上可分為兩大類：空間相位展開和時間相位展開。與空間相位展開方法相比，時間相位展開雖然需要的圖像更多，
    但是可以算法的穩(wěn)定性更強(qiáng)。因此，多采用多頻外差原理這一經(jīng)典的時間相位展開方法進(jìn)行相位展開。
    3） 相位誤差分析與補(bǔ)償
    3.1 相位誤差分析
    一般來講，相位測量輪廓術(shù)中的相位誤差有三個主要來源:相移機(jī)構(gòu)的相移誤差、光柵圖像的非正弦化、光柵圖像的離散化和隨機(jī)噪音。其中光柵圖像的非正弦化將成為系統(tǒng)相位計算的主要誤差。
    相位測量輪廓術(shù)的測量誤差有2個主要來源,即相移誤差和探測器的非線性誤差.
    相移誤差因相移步距的不相等所致,相移誤差常常是不可避免的,但是可以通過采用精密的相移裝置和測量過程中采用實(shí)時相移校正技術(shù) ,使相移誤差降低到最小限度.這時探測器的非線性誤差將成為主要的影響因素.
    3.2 相位誤差補(bǔ)償
    光柵圖像中的高頻分量引起的相位誤差是有規(guī)律的，如果能夠?qū)ζ溥M(jìn)行正確的統(tǒng)計，找出其分布規(guī)律，則可使用相位誤差查找表對其進(jìn)行有效的補(bǔ)償。
    通過直接分析拍攝標(biāo)準(zhǔn)平板得到的光柵圖像的相位誤差，并量化建立相位誤差查找表，后續(xù)系統(tǒng)標(biāo)定和測量過程中使用已建立的相位誤差查找表對相位誤差進(jìn)行補(bǔ)償。 
    4）系統(tǒng)參數(shù)標(biāo)定
   選對合適的系統(tǒng)參數(shù)標(biāo)定方法可以有效的減小誤差。
    5）三維重建
    6） 結(jié)構(gòu)光三維測量系統(tǒng)及其應(yīng)用簡介
    利用結(jié)構(gòu)光成像的設(shè)備目前已經(jīng)很成熟的拍照式三維掃描儀，如：精易迅科技的PTS系列三維測量系統(tǒng)中標(biāo)準(zhǔn)型系統(tǒng)的測量精度為0.05mm，精密型系統(tǒng)的測量精度為0.015mm。